CST-50型沖擊試樣缺口投影儀本投影儀是我公司根據(jù)目前國內(nèi)廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學儀器，CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。

操作注意事項

對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格(試樣缺口深2mm、呈45?角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.25)，故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化(其公差帶只有0.25mm)都會引起試驗結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產(chǎn)品報廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺口的加工質(zhì)量檢驗是一個重要的質(zhì)量控制手段。

1投影屏直徑180

2工作臺尺寸方工作臺110×125

圓工作臺∮90

工作臺玻璃直徑∮70

3工作臺行程縱向10mm

橫向10mm

升降10mm

4工作臺轉(zhuǎn)動范圍0～360o

儀器放大倍率50×

物鏡放大倍率2.5×

投影物鏡放大倍率20×

光源(鹵鎢燈)12V/100W

5電源220V/50Hz

6外型尺寸515×224×603mm(長×寬×高)

重量約18kg